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发布日期

20240209

2024 年 02 月 08 日

20231215

2023 年 12 月 15 日

20230822

2023 年 08 月 22 日

20230712

2023 年 07 月 12 日

20230407

2023 年 04 月 7 日

20230123

2023 年 01 月 23 日

20221121

2022 年 11 月 21 日

20221111

2022 年 11 月 11 日

20221107

2022 年 11 月 7 日

20240208

改进的 PPK 处理
改进的进程选项卡日志系统
当检测到两个曝光脉冲时，用于选择 DAQ 相机端口的新弹出窗口
新的去拜耳方法减少了去拜耳伪影（增加了处理时间）
使用或不使用 DAQ 日志进行处理的新日志反馈
拒绝曝光过度/不足的光传感器测量的附加检查
向“进程选项卡”设置菜单添加了新选项：
- 应用 PPK 修正（是/否）
- 使用高质量的去拜耳处理（较慢）（是/否）
Bug修复：
- 修复了在“分析”选项卡中更改图层时的内存问题
- 修复了在“分析”选项卡上导出图像的问题
- 修复了单通道滤波器模型未输出为单通道图像的问题
- DAQ 日志为空或损坏时的错误处理

20231215

支持 DAQ (.daq) 日志。将 DAQ 日志条目与相机时间戳相匹配，以随着环境光的变化调整反射率校准。
分析选项卡：打开图像文件夹以进行查看、应用索引和 lut。使用左箭头和右箭头在已处理的图像之间切换。
分析选项卡：批量保存处理后的图像（索引和 lut）。将索引和 lut 应用于图像后，您现在可以选择保存该图像的索引/lut 图像或应用并保存整个图像文件夹。
如果在处理过程中您选择保存校准目标的图像，它们现在将保存为 JPG 而不是 TIFF，以节省存储空间。各种处理日志文本调整，以更清楚地显示当前正在进行的步骤。

20230822

现在支持反射率目标 T3-R125。
分析过程中再次支持曝光检查，并进行了改进。
添加了用于传感器响应校正的新处理选项。

20230712

MCC exe 现已进行代码签名以提高安全性，并将 MAPIR 列为经过验证的应用程序发布者。
新的用户可调整设置：“保存校准的参考目标图像”。启用/禁用保存用于校准的目标图像。如果您不需要分析带有校准目标的图像，则不保存它们会加快处理时间。
目标图像的排序（当图像中存在多个目标时）：
- T3 优于 V2
- 优选较大的目标区域
- 更集中的优先
- 目标区域像素的高方差自动拒绝图像
如果重新校准间隔时间尚未过去，则自动跳过分析或查找目标图像。
已修复问题：分析选项卡、Lut 窗口、剪辑：透明，现在保存图像时正确透明。
已修复问题：“分析”选项卡中，应用新索引时，LUT 最小/最大会正确重置。
还修复了其他各种小问题。

20230407

通过单独完全处理每个图像来减少图像处理时间。每张图像都可以在处理后立即进行审查。这允许用户在继续处理剩余图像的同时分析完成的图像。您可以打开另一个 MCC 实例并使用“分析”选项卡分析图像，而其余部分在后台完成处理。
计算机视觉 3D 姿态估计现在用于校准目标 QR 检测和目标采样。当使用增加的采样区域时，这极大地改善了偏离最低点的角度检测并减少了采样错误。
用于测量校准目标像素值的采样区域增加了 5 倍。现在在每个反射率目标上使用大正方形而不是小圆圈。对更多像素进行平均应该会提高生成的校准公式的准确性。
支持检测并使用新的 T3-R50 目标进行反射校准和白平衡。继续支持 V2 目标。如果图像中同时包含 T3 和 V2 目标，则会自动选择 T3 而不是 V2。
输出文件夹结构现在复制导入文件夹结构，包括目标文件夹。所有子文件夹现在都包含在输入文件夹路径中以进行处理，忽略任何包含“已处理”一词的文件夹。目标文件夹内的子文件夹仍然不包括在内。
图像现在在分析过程中按捕获时间排序，校准目标的图像能够随时间更新使用的校准公式（请参阅下面的新重新校准间隔设置）。
PPR（后处理辐射测量）：现在支持时间戳重新校准和子文件夹输入，您可以处理许多新的数据收集场景。一个例子是在基地和流动站（无人机）上使用相同型号的相机。基本上，一组相机捕捉参考反射率目标的图像，而另一组捕捉附近的图像（手持式、航测等）。然后在导入到 MCC 时将两组图像作为子文件夹包括在内，它会随着时间的推移更正反射率校准。假设基地和漫游者处于相同的照明条件下，随着环境光的变化，这将为您提供随时间的连续辐射测量校正。
新的用户界面 PROCESS 选项卡设置菜单“齿轮”按钮。 MCC 应用程序关闭后，设置值会保留在您的计算机上。当前支持的设置详情如下：
- 重新校准间隔（秒）：在反射率校准过程中，当找到等于或大于间隔时间的新校准目标图像时，将重新计算校准公式。间隔时间是自上次校准目标图像时间戳以来的秒数。设置为 0 将为找到的每个目标图像更新校准公式。这使您可以更轻松地考虑环境光的变化。如果在第一张目标图像之前及时发现非目标图像，则将使用第一张找到的目标图像校正所有先验图像。
- 最小校准样本区域 (px)：在评估校准目标图像时，我们拒绝任何距离相机太远的图像。我们通过为每个反射率目标的像素设置最小样本区域来限制此距离。最小样本区域越小，目标可以越远，但用于平均的像素越少。每个目标使用的像素越多，平均值就越好，因此结果应该越好。如果您从不同距离（例如无人机起飞时）捕获多个校准图像，则此设置很有用。我们正在对一个正方形区域进行采样，因此正方形的边长控制着总面积。面积 = 长 x 宽。因此，面积值为 25 是 5 x 5 像素的最小平方。

修复了 ANALYZE 选项卡上剪辑的 LUT 值更新不正确且在窗口关闭时未保存的问题。

20230123

改进了不同屏幕分辨率的窗口缩放
在处理过程中将扩展元数据 (exif/xmp) 添加到 Survey3 图像，使其与大多数图像处理程序自动兼容，而无需添加相机配置文件（例如 Pix4D）
现在支持带有“-”和“-”的文件路径

20221121

新的启动画面有助于识别程序加载，这对于加载时间较长的较慢的计算机很重要
MCC 程序的新任务栏图标和窗口图标
修复了未选择 JPG 目标图像分析的问题

20221111

改进了分析期间的 RAW+JPG 图像对发现
添加了对分析图像数量高于 _999 的图像的支持
完成分析时打开 image_list.csv 时的小错误处理

20221107

Previous检查相机曝光 Next经常问的问题

Last updated 11 months ago

20240208

改进的 PPK 处理

改进的进程选项卡日志系统

当检测到两个曝光脉冲时，用于选择 DAQ 相机端口的新弹出窗口

新的去拜耳方法减少了去拜耳伪影（增加了处理时间）

使用或不使用 DAQ 日志进行处理的新日志反馈

拒绝曝光过度/不足的光传感器测量的附加检查

向“进程选项卡”设置菜单添加了新选项：

应用 PPK 修正（是/否）
使用高质量的去拜耳处理（较慢）（是/否）

Bug修复：

修复了在“分析”选项卡中更改图层时的内存问题
修复了在“分析”选项卡上导出图像的问题
修复了单通道滤波器模型未输出为单通道图像的问题
DAQ 日志为空或损坏时的错误处理

20231215

支持 DAQ (.daq) 日志。将 DAQ 日志条目与相机时间戳相匹配，以随着环境光的变化调整反射率校准。

分析选项卡：打开图像文件夹以进行查看、应用索引和 lut。使用左箭头和右箭头在已处理的图像之间切换。

分析选项卡：批量保存处理后的图像（索引和 lut）。将索引和 lut 应用于图像后，您现在可以选择保存该图像的索引/lut 图像或应用并保存整个图像文件夹。

如果在处理过程中您选择保存校准目标的图像，它们现在将保存为 JPG 而不是 TIFF，以节省存储空间。各种处理日志文本调整，以更清楚地显示当前正在进行的步骤。

20230712

MCC exe 现已进行代码签名以提高安全性，并将 MAPIR 列为经过验证的应用程序发布者。

新的用户可调整设置：“保存校准的参考目标图像”。启用/禁用保存用于校准的目标图像。如果您不需要分析带有校准目标的图像，则不保存它们会加快处理时间。

目标图像的排序（当图像中存在多个目标时）：

T3 优于 V2
优选较大的目标区域
更集中的优先
目标区域像素的高方差自动拒绝图像

如果重新校准间隔时间尚未过去，则自动跳过分析或查找目标图像。

已修复问题：分析选项卡、Lut 窗口、剪辑：透明，现在保存图像时正确透明。

已修复问题：“分析”选项卡中，应用新索引时，LUT 最小/最大会正确重置。

还修复了其他各种小问题。

20230407

通过单独完全处理每个图像来减少图像处理时间。每张图像都可以在处理后立即进行审查。这允许用户在继续处理剩余图像的同时分析完成的图像。您可以打开另一个 MCC 实例并使用“分析”选项卡分析图像，而其余部分在后台完成处理。

计算机视觉 3D 姿态估计现在用于校准目标 QR 检测和目标采样。当使用增加的采样区域时，这极大地改善了偏离最低点的角度检测并减少了采样错误。

用于测量校准目标像素值的采样区域增加了 5 倍。现在在每个反射率目标上使用大正方形而不是小圆圈。对更多像素进行平均应该会提高生成的校准公式的准确性。

支持检测并使用新的 T3-R50 目标进行反射校准和白平衡。继续支持 V2 目标。如果图像中同时包含 T3 和 V2 目标，则会自动选择 T3 而不是 V2。

输出文件夹结构现在复制导入文件夹结构，包括目标文件夹。所有子文件夹现在都包含在输入文件夹路径中以进行处理，忽略任何包含“已处理”一词的文件夹。目标文件夹内的子文件夹仍然不包括在内。

图像现在在分析过程中按捕获时间排序，校准目标的图像能够随时间更新使用的校准公式（请参阅下面的新重新校准间隔设置）。

PPR（后处理辐射测量）：现在支持时间戳重新校准和子文件夹输入，您可以处理许多新的数据收集场景。一个例子是在基地和流动站（无人机）上使用相同型号的相机。基本上，一组相机捕捉参考反射率目标的图像，而另一组捕捉附近的图像（手持式、航测等）。然后在导入到 MCC 时将两组图像作为子文件夹包括在内，它会随着时间的推移更正反射率校准。假设基地和漫游者处于相同的照明条件下，随着环境光的变化，这将为您提供随时间的连续辐射测量校正。

新的用户界面 PROCESS 选项卡设置菜单“齿轮”按钮。 MCC 应用程序关闭后，设置值会保留在您的计算机上。当前支持的设置详情如下：

重新校准间隔（秒）：在反射率校准过程中，当找到等于或大于间隔时间的新校准目标图像时，将重新计算校准公式。间隔时间是自上次校准目标图像时间戳以来的秒数。设置为 0 将为找到的每个目标图像更新校准公式。这使您可以更轻松地考虑环境光的变化。如果在第一张目标图像之前及时发现非目标图像，则将使用第一张找到的目标图像校正所有先验图像。
最小校准样本区域 (px)：在评估校准目标图像时，我们拒绝任何距离相机太远的图像。我们通过为每个反射率目标的像素设置最小样本区域来限制此距离。最小样本区域越小，目标可以越远，但用于平均的像素越少。每个目标使用的像素越多，平均值就越好，因此结果应该越好。如果您从不同距离（例如无人机起飞时）捕获多个校准图像，则此设置很有用。我们正在对一个正方形区域进行采样，因此正方形的边长控制着总面积。面积 = 长 x 宽。因此，面积值为 25 是 5 x 5 像素的最小平方。

修复了 ANALYZE 选项卡上剪辑的 LUT 值更新不正确且在窗口关闭时未保存的问题。